X射線熒光光譜儀是較新型X射線熒光光譜儀，具有重現(xiàn)性好，測(cè)量速度快，靈敏度高的特點(diǎn)。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對(duì)象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無(wú)標(biāo)半定量方法可以對(duì)各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結(jié)果，結(jié)果準(zhǔn)確度對(duì)某些樣品可以接近定量水平，分析時(shí)間短。

　　X射線熒光光譜儀的應(yīng)用：

　　固體樣品中元素的定性、定量、半定量分析。固體樣品類型包括塊狀固體、小顆粒小配件、薄膜、粉末、濾膜等。常見的XRF譜儀分為波長(zhǎng)色散型和能量色散型，兩者具有不同的分析范圍和分析特點(diǎn)。

　　X射線熒光光譜儀的功能：

　　基于X射線的一種分析手段，當(dāng)一束高能粒子與原子相互作用時(shí)，如果其能量大于或等于原子某一軌道電子的結(jié)合能，將該軌道電子逐出，形成一個(gè)空穴使原子處于激發(fā)態(tài)，由于激發(fā)態(tài)不穩(wěn)定，外層電子向空穴躍遷使原子恢復(fù)到平衡態(tài)，躍遷時(shí)釋放出的能量以輻射的形式放出便產(chǎn)生X熒光。

　　X熒光具有特征的波長(zhǎng)，對(duì)應(yīng)的即是特征的能量，通過(guò)對(duì)光子的特征波長(zhǎng)進(jìn)行辨識(shí)，XRF能實(shí)現(xiàn)對(duì)元素的定性分析，通過(guò)探測(cè)特征波長(zhǎng)的X射線光子的強(qiáng)度，實(shí)現(xiàn)元素的定量和半定量分析。